高い安全性と信頼性が望まれる商品の品質管理や高速な自動化生産ラインに不可欠な外観画像検査やX線/IR、レーザー干渉、熱伝導技術等を用いた各種非破壊検査装置を取り扱っております。
![ウエハ外観検査装置](https://www.nanyo.co.jp/wp/wp-content/uploads/uehagaikankensasochi.jpg)
ウエハ外観検査装置
![半導体外観検査装置](https://www.nanyo.co.jp/wp/wp-content/uploads/handotaigaikankensasochi.jpg)
半導体外観検査装置
![電子部品外観検査装置](https://www.nanyo.co.jp/wp/wp-content/uploads/denshibuhingaikankensasochi.jpg)
電子部品外観検査装置
![ウエハ検査レビュー機](https://www.nanyo.co.jp/wp/wp-content/uploads/uehakensarebyu-ki_230203.jpg)
ウエハ検査レビュー機
![レーザーボンドテスター(非破壊)](https://www.nanyo.co.jp/wp/wp-content/uploads/re-za-bondotesuta-.jpg)
レーザーボンドテスター
(非破壊)
その他、半導体・電子部品以外の検査装置も取り扱っております。
主要メーカー一覧
アイエルテクノロジー(株)/コメットテクノロジーズ・ジャパン(株)/
(株)清和光学製作所/タカノ(株)/(株)戸髙製作所/
(株)浜村/(株)ミツトヨ/
Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd(シンガポール)/他
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